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用于x射线检测的工艺特性

时间:2023-6-27 3:00:00来源:http://ndt.xn--fiqs8s/news951309.html

x射线检测使用x射线(也包括γ射线)射线或其他高能射线可以穿透金属材料的方法,由于材料对射线的不同吸收和散射作用,薄膜的灵敏度也有所不同。因此,提出了一种通过在负片上形成不同黑度的图像来确定材料内部缺陷的检测方法。射线照相是一种根据被检工件和内部缺陷介质的射线能量衰减,通过改变穿过工件的射线强度来显示工件上缺陷的方法。射线照相胶片。

x射线检测发生器发射的x射线穿过工件时,缺陷内部介质的吸收能力与周围完整部分不同,因此通过缺陷透射的射线强度与周围完整部分不同。将薄膜放置在工件上的正确位置。在感光胶片上,有缺陷和无缺陷的部分将暴露在不同的光照条件下。在暗室进一步处理后,获得负片。

然后将负片放在胶片观看者上,清楚地观察到缺陷和非缺陷有不同的黑度水平。法官可以据此判断缺陷情况。荧光屏观察法是用不同强度的辐射照射物体,并在覆盖荧光粉的荧光屏上激发不同强度的荧光,从而获得物体内部图像的方法。本方法使用的设备主要由x射线发生器及其控制设备、荧光屏观察记录辅助设备、工件保护和转移设备组成。在检测过程中,工件被送入观察箱。

探伤仪的x射线检测管发出的光穿过被检工件,落在工件旁边的荧光屏上。被反射的缺陷图像被一个平面镜反射并通过与该平面镜平行的导线。玻璃观察。荧光屏观察法只能检测薄而简单的工件,灵敏度较差。灵敏度高,范围从2%3%。在大量检测中,灵敏度仅为4% ~ 7%。小裂缝是不可能检测出来的。


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